半導體芯片調試控溫高低溫一體設備

半導體芯片調試控溫高低溫一體設備

半導體芯片調試控溫高低溫一體設備

半導體芯片調試控溫高低溫一體設備

　　無錫冠亞微流控芯片測溫系統是無錫冠亞自主研發生產的設備，結合以往制冷加熱控溫的經驗，生產符合微流控芯片測試的設備，適合微流控芯片行業需求。

　　對于智能化微流控芯片測溫系統的定義雖有不同的解釋和理解，但采用計算機輔助測試（CAT）技術已成為測量儀器發展的必然趨勢。不論采用單片機、單板機、敞視或主用通用微機，計算機在測量儀器中充當了越來越重要的角色，發揮著越來越大的作用。單片機、單板機的簡單測試系統這類系統將單片機或單板機裝入測量儀器，用于控制、管理和協調測量儀器各部分硬件的工作。通常成本較低，由于大多采用匯編語言編程，一般也具有較快的測試速度。有的系統配有簡單的外設接口，例如可用打印機輸出測試、數據，有的還配有鍵盤和顯示器，可完成簡單的人機交互。微流控芯片測溫系統難于得到功能強大的軟件包的支持。有的系統采用修改系統數據區完成對測試對象的編程，這使得非專業編程人員難于完成編程工作。這類系統比較適合于電子元器件生產線上的固定測試要求的大批測試。

芯片高低溫測試機應用說明

　　無錫冠亞芯片高低溫測試機是針對電子元器件行業測試所推出的，那么，這類芯片高低溫測試機適用于那些行業呢？

　　經過無錫冠亞的努力，其開發生產的芯片高低溫測試機TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號可以用于中小規模數字集成電路邏輯功能及靜態直流參數測試，在微弱電流測試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導體分立器件進行參數測試，測試原理符合國標及軍標要求，功率參數采用300uS脈沖測試，并采用數據、圖形雙重顯示。用于普通、化、時間等各類電磁繼電器參數的測試，在觸點接觸電阻和時間參數的測試方面有良好的特性，被我國國軍標電磁繼電器生產線選用。