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    半導體高低溫測試機典型應用介紹

     更新時間:2023-03-03 點擊量:1066

      半導體高低溫測試機也稱為氣體制冷加熱控溫系統、高低溫沖擊氣流儀、熱流儀等,采用流體溫度控制技術,在元器件半導體行業進行各種溫度測試模擬應用,控溫范圍-92~250℃,具有寬的溫度方向和高溫升降,適用于各種測試要求。

      冠亞制冷半導體高低溫測試機適用于電子元件的準確溫度控制,在用于惡劣環境的半導體電子組件制造中,IC封裝組裝、工程和生產測試階段包括電子熱測試和其他溫度(-45℃至+250℃)下的環境測試模擬。一旦投入實際使用,這些半導體器件和電子產品可以暴露在嚴苛的環境條件下,以滿足苛刻的可靠性標準。

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      一、高精度制冷加熱控溫系統

      溫度控制范圍:-85~+250

      溫度控制精度:±0.3

      應用領域:研究院、航空航天、半導體和電氣工業、大學、新材料工業、IC芯片測試、電路板、元器件測試等領域。

      溫度范圍以及型號:

      TES-45℃~250℃:TES-4525TES-4525WTES-4555TES-4555W

      TES-85℃~200℃:TES-8525WTES-8555W

      TES-60℃~200℃:TES-6A15WPEXTES-6A15WDEXTES-6A25WPEXTES-6A25WDEXTES-6A45WPEXTES-6A45WDEXTES-6A60WPEXTES-6A60WDEX

      二、氟化液制冷加熱控溫系統

      溫度控制范圍:-80~+80

      溫度控制精度:±0.1

      應用于半導體和電氣工業、新材料工業、IC芯片測試、電路板、元器件測試等領域。

      溫度范圍以及型號:

      LTS-20℃~80 LTS-202LTS-202WLTS-203WLTS-204WLTS-206W LTS-203LTS-204 LTS-206 LTS-208LTS-208W

      LTS-40℃~80 LTS-402LTS-403 LTS-404 LTS-406 LTS-408LTS-402W LTS-403W LTS-404W LTS-406W LTS-408W

      LTS-60℃~80 LTS-602 LTS-603 LTS-604 LTS-606 LTS-608LTS-602W LTS-603W LTS-604W LTS-606W LTS-608W

      LTS-80℃~80℃:LTS-802 LTS-803 LTS-804 LTS-806 LTS-808LTS-802W LTS-803W LTS-804W LTS-806W LTS-808W

      三、高低溫沖擊測試機

      溫度控制范圍:-115~+225

      溫度控制精度:±0.5

      射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供準確且快速的環境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。

    溫度范圍以及型號:

      -45℃~225℃:AES-4535AES-4535W

      -60℃~225℃:AES-6035

      -80℃~225℃:AES-8035W

      -100℃~225℃: AES-A1035W

      -115℃~225℃:AES-A1235W

      四、AI循環風控制系統

      溫度控制范圍:-105~+125

      溫度控制精度:±0.2

    應用于半導體設備高低溫測試;電子設備高溫、低溫、恒溫測試冷熱源;獨立的制冷循環風機組;可連續長時間工作,自動除霜,除霜過程不影響庫溫。

    溫度范圍以及型號:

      -65℃~+125℃:AI-6535AI-6535W

      -80℃~+125℃:AI-8035W

      -105℃~+125℃:AI-1055W

      五、小型氣體制冷機

      溫度控制范圍:-110~-40

      應用于將無腐蝕性氣體降溫使用,如干燥壓縮空氣、氮氣、氬氣等常溫氣體通入到LQ系列設備內部,出來的氣體即可達到目標低溫溫度,供給需求測試的元件或者換熱器中。


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