微處理器芯片測試裝置chiller常見故障

　　在制冷行業中分為風冷式半導體芯片高低溫測試chiller和水冷式半導體芯片高低溫測試chiller兩種，根據壓縮機又分為螺桿式半導體芯片高低溫測試chiller、渦旋式半導體芯片高低溫測試chiller、離心式半導體芯片高低溫測試chiller。

　　在溫度控制上分為低溫工業冷水機和常溫冷水機，常溫機組溫度一般控制在0度-35度范圍內。低溫機組溫度控制一般在0度至-100度左右。

　　半導體芯片高低溫測試chiller的開、停機順序要保證設備主機啟動后能正常運行，須保證：冷凝器散熱良好，否則會因冷凝溫度及對應的冷凝壓力過高，使半導體芯片高低溫測試chiller高壓保護器件動作而停車，甚至導致故障。

　　蒸發器中冷水應循環流動，否則會因冷水溫度偏低，導致冷水溫度保護器件動作而停車，或因蒸發溫度及對應的蒸發壓力過低，是半導體芯片高低溫測試chiller的低壓保護器件動作而停車，甚至導致蒸發器中冷水結冰而損壞設備。因此，半導體芯片高低溫測試chiller的開機順序為：冷卻塔風機開、冷卻水泵開、冷水泵開、半導體芯片高低溫測試chiller開半導體芯片高低溫測試chiller的停機順序為：半導體芯片高低溫測試chiller停、冷卻塔風機停、冷卻水泵停、冷水泵停。

　　停機時，半導體芯片高低溫測試chiller應在下班前半小時關停，冷水泵下班后再關停，有利于節省能源，同時避免故障停機，保護機組。運行制冷循環前，應確認制熱循環管道閥門已全部關閉。

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